掃描型紫外分光光度計(jì)是一種應(yīng)用很廣的分析儀器。當(dāng)前已成為使用多、覆蓋應(yīng)用面廣的分析儀器。
 

　　它的應(yīng)用領(lǐng)域涉及制藥、醫(yī)療衛(wèi)生、化學(xué)化工、環(huán)保、地質(zhì)、漁業(yè)等領(lǐng)域中的科研、教學(xué)等各個(gè)方面，用來進(jìn)行定性分析、純度檢查、結(jié)構(gòu)分析、絡(luò)合物組成及穩(wěn)定常數(shù)的測定、反應(yīng)動(dòng)力學(xué)研究等。
 

　　因?yàn)閮x器涉及到光學(xué)、電學(xué)和結(jié)構(gòu)等，所以它需要在一定的環(huán)境中應(yīng)用。紫外可見分光光度計(jì)常用的定量分析方法是標(biāo)準(zhǔn)曲線法。未來，可見分光光度計(jì)價(jià)格將呈現(xiàn)平穩(wěn)趨勢(shì)。
 

　　隨著經(jīng)濟(jì)結(jié)構(gòu)深入調(diào)整，國內(nèi)儀器儀表行業(yè)呈現(xiàn)出新的變化。雖然我國儀器儀表行業(yè)已經(jīng)取得了飛速發(fā)展，但是在自動(dòng)化控制系統(tǒng)及現(xiàn)場儀表和關(guān)鍵精密測試儀器等領(lǐng)域，我們與先進(jìn)水平還存在較大差距，其中儀器主要依賴進(jìn)口的形勢(shì)仍未改變。
 

　　因此，未來我國儀器儀表行業(yè)的發(fā)展目標(biāo)是：達(dá)到、趕超、世界水平。